[发明专利]用于控制振荡微机电系统的谐振频率的装置有效
申请号: | 200680019453.2 | 申请日: | 2006-03-28 |
公开(公告)号: | CN101189793A | 公开(公告)日: | 2008-05-28 |
发明(设计)人: | L·普兰迪;E·拉萨兰德拉;T·昂加雷蒂 | 申请(专利权)人: | 意法半导体股份有限公司 |
主分类号: | H03H9/02 | 分类号: | H03H9/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王岳;王小衡 |
地址: | 意大利*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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摘要: | 一种用于控制振荡微机电系统的谐振频率的装置包含:微观结构(2),所述微观结构(2)具有第一基体(10)和第二基体(11),该第二基体(11)被电容性耦合到该第一基体(10)且可以以可校准的谐振频率(ωR)相对于其弹性振荡,其中该第二基体(11)和该第一基体(10)之间的相对位移(ΔY)可从外面检测;以及放大器(21),其耦合到微观结构(2)用于检测相对位移(ΔY)。DC去耦元件(23)设置在放大器(21)和微观结构(2)之间。 | ||
搜索关键词: | 用于 控制 振荡 微机 系统 谐振 频率 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于控制振荡微机电系统的谐振频率的装置,包括:微观结构(2),包括第一基体(10)和第二基体(11),所述第二基体(11)被电容性耦合到所述第一基体(10)且可以以可校准的谐振频率(ωR)相对于其弹性振荡,其中所述第二基体(11)和所述第一基体(10)之间的相对位移(ΔY)可从外面检测;以及放大器(21),其耦合到所述微观结构(2)用于检测所述相对位移(ΔY);所述装置的特征在于包括它设置在所述微观结构(2)和所述放大器(21)之间的DC去耦元件(23)。
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