[发明专利]用于识别焊缝处的缺陷部位的缺陷探测系统有效
| 申请号： | 200680021032.3 | 申请日： | 2006-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN101198435A | 公开（公告）日： | 2008-06-11 |
| 发明（设计）人： | F·戴;B·马赛厄斯;S·科克 | 申请（专利权）人： | ABB研究有限公司 |
| 主分类号： | B23K31/12 | 分类号： | B23K31/12 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 卢江;魏军 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 本发明涉及用于识别焊缝处的缺陷部位的缺陷探测系统，具有安装于加工设备的移动装置上的扫描装置，其中可通过移动装置使扫描装置在至少一个要检测的焊缝上方移动。扫描装置以可预先设定的频率对焊缝进行扫描，其中每次扫描均与时间信号相关，并且利用该时间信号检测对至少一个有缺陷部位的扫描部位进行扫描的时刻。设置分析模块，用以根据通过扫描所获得的扫描信号来确定缺陷部位的坐标。该分析模块此外被设置用以存储缺陷部位的坐标，并且传输给定位模块。定位模块通过在扫描期间移动装置的速度特性曲线、给有缺陷部位的扫描部位所分配的时间信号以及由分析模块所提供的缺陷部位坐标进行评价来确定焊缝缺陷部位的空间布置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 识别 焊缝 缺陷 部位 探测 系统 | ||
【主权项】：
1.用于识别焊缝处的缺陷部位的缺陷探测系统，具有安装于加工设备的移动装置上的扫描装置，其中可通过移动装置使扫描装置在至少一个要检查的焊缝上方移动，其特征在于，-扫描装置以可预先设定的频率对焊缝进行扫描，-每次扫描与时间信号相关，其中利用该时间信号来检测对至少一个有缺陷部位的扫描部位进行扫描的时刻，-设置分析模块，所述分析模块根据通过扫描所获取的扫描信号来确定缺陷部位的坐标，-分析模块此外被设置用来存储缺陷部位的坐标，并且-定位模块通过对在扫描期间移动装置的速度特性曲线、给有缺陷部位的扫描部位所分配的时间信号以及由分析模块所提供的缺陷部位坐标进行评价来确定焊缝缺陷部位的空间布置。
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