[发明专利]用于检测行进中的长产品的表面和结构缺陷的方法和设备

摘要

本发明尤其涉及在轧制机中行进的产品的缺陷检测方法，其一般包括照亮(ECL)该产品，获取(ACQ)在至少一个光谱带中的图像(I₃)，对形成的图像进行预处理(PTTRM)，检测和提取(DTEXTR)预处理图像(DL_V)的可能的质量可疑区域(Z_V)，以及将所述质量可疑区域分成(CLASS)一个或多个缺陷种类或者无缺陷种类。根据用于热轧产品的本发明，所述产品在例如包括红外波段、红色波段和绿色波段的三个分开的光谱带中被检验，以使得质量可疑区域(Z_IR，Z_R，Z_V，Z₄)可被分成一个或多个无缺陷种类或者缺陷种类，其中包括表面缺陷和结构缺陷。

主权项

1.一种用于检测在轧制设备中行进的产品(1)的缺陷的方法，所述方法包括至少一个照明操作(ECL)、获取操作(ACQ)、预处理操作(PTTRM)、质量可疑区域的检测和提取操作(DETEXTR)以及分类操作(CLASS)，所述照明操作在于利用光源(6)照亮所述行进产品，所述获取操作在于通过扫描而形成在第一光谱带中观察到的所述行进产品的第一图像，所述预处理操作至少在于由所述产品的观察区域的所述第一图像产生所述区域的第一数字化亮度分布，所述检测和提取操作在于利用所述产品的所述观察区域的所述第一数字化亮度分布来检测所述区域中可能的缺陷的存在和位置，以及所述分类操作至少在于通过将所述质量可疑区域的形态的和/或光度特征与保存在预先创建的数据库中的已知缺陷和已知无缺陷的形态的和/或光度特征进行比较，而将所述质量可疑区域分成一个或多个缺陷种类或者无缺陷种类；其特征在于，所述方法被应用于在热轧设备中行进并且自发地发出光辐射的产品(1)，所述光辐射位于包括红外线在内的自发辐射光谱中；其特征还在于，所述照明操作(ECL)通过利用可见光源(6)照亮所述行进产品来执行，所述光源(6)发出至少在所述自发辐射光谱之外的光；其特征还在于，所述获取操作(ACQ)在于形成所述产品的同一观察区域的至少三个图像(I1，I2，I3)，所述至少三个图像位于三个各自不相邻的光谱带中，所述三个各自不相邻的光谱带中的第一光谱带至少位于红外区中、第二光谱带至少位于红色区域中、以及第三光谱带至少位于所述自发辐射光谱之外的可见光谱的一部分中；其特征还在于，所述预处理操作(PTTRM)至少在所述三个图像(I1，I2，I3)上执行，以提供至少三个通过多个比特进行数字化的各自的亮度分布(DLIR，DLR，DLV，DL4)；其特征还在于，所述质量可疑区域(ZIR，ZR，ZV，Z4)的所述检测和提取操作(DETEXTR)至少在所述数字化亮度分布(DLIR，DLR，DLV，DL4)上执行；其特征还在于，所述分类操作(CLASS)在于至少通过将所述质量可疑区域(ZIR，ZR，Zv和Z4)的形态的和/或光度特征及其在所述数字化亮度分布(DLIR，DLR和DLV)中的分配，与预先创建的数据库中保存的已知内部缺陷、已知表面缺陷和已知无缺陷的相应的数字化分布中的形态的和/或光度特征以及分配进行比较，从而至少将从所述数字化亮度分布(DLIR，DLR，DLV，DL4)中提取出的所述质量可疑区域(ZIR，ZR，Zv和Z4)分成产品内部缺陷、产品表面缺陷或产品无缺陷中的一类或多类。