[发明专利]用于涂覆通过亲和力-测定法用于被分析物检测的底物基质的新的设备和方法有效

专利信息
申请号: 200680023014.9 申请日: 2006-04-22
公开(公告)号: CN101208599A 公开(公告)日: 2008-06-25
发明(设计)人: E·希克;D·尤廷杰;C·卡朗德 申请(专利权)人: 拜尔技术股份有限责任公司
主分类号: G01N33/00 分类号: G01N33/00;B05B17/06;B05D1/02;G01N35/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 温宏艳;林森
地址: 德国莱*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明的主题涉及各种实施方案通过亲和力-测定法用于检测一个或多个被分析物的底物基质的涂覆设备,其包括:用于接收被雾化液体的容器(“液体容器”),其中具有在至少一个所述底物基质的表面沉积的物质(化合物)以及形成于液体之上的在操作期间产生的喷雾体积;用于诱导雾化工序的促动器,和用于在涂覆工艺期间接收和储存底物基质的支持物,其特征在于,底物基质与被雾化液体表面不接触。本发明还包括各种实施方案,通过亲和力测定法用于检测一个或多个被分析物的、具有粘合促进和/或钝化层的底物基质的涂覆方法。
搜索关键词: 用于 通过 亲和力 测定法 分析 检测 基质 设备 方法
【主权项】:
1.用于涂覆用于通过亲和力-测定法检测一个或多个被分析物的底物基质的设备,其包括:-用于接收待雾化液体的容器(“液体容器”),其含有在至少一个所述底物基质表面所沉积的物质(化合物)以及在液体之上在操作期间形成的喷雾体积;-用于诱导雾化工序的促动器和-在涂覆工艺期间接收和储存底物基质的支持物,其特征在于,底物基质与待雾化液体的表面不接触。
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