[发明专利]检测光盘内的数据恶化

摘要

本发明涉及一种用于检测光学介质中的恶化的系统和方法，这是通过在光学介质(5)上均匀地定义一组纠错码(ECC)块(6)并且读取每一个所述ECC块，以便在一旦把该光学介质置于使用中之后确定每一个所述ECC块的可校正错误的数目(13)。对各ECC块的读取的结果被存储在所述光学介质上。可以统计地重复对所述ECC块的读取，并且对每一个所述ECC块的结果求平均。通过在较长时间段内执行对所述ECC块的读取，可以确定盘的长期恶化，并且产生一个指示以表明应当把该盘上的数据拷贝到另一个存储设备上。在所述盘表面上均匀地选择所述ECC块，从而可以消除划痕、黑点。

主权项

1.一种用于确定光学介质上的错误的方法，包括：按照均匀的方式在该光学介质上定义一组纠错码(ECC)块；读取该组ECC块当中的每一个；为该组ECC块确定ECC校正的数目；把所述ECC校正的数目与预定阈值进行比较，该预定阈值表明可接受的校正水平；以及响应于所述比较步骤，如果所述ECC校正的数目没有超出该预定阈值则继续正常使用该光学介质，或者提供一个指示以表明所述ECC校正的数目超出该预定阈值。