[发明专利]用于配置循环冗余校验（CRC）产生电路以对数据流执行CRC的方法和设备无效
| 申请号： | 200680025591.1 | 申请日： | 2006-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN101223700A | 公开（公告）日： | 2008-07-16 |
| 发明（设计）人： | 鲁沙恩·J·萨穆埃尔;拉维恩·罗伊瓦尼特 | 申请（专利权）人： | 密克罗奇普技术公司 |
| 主分类号： | H03M13/09 | 分类号： | H03M13/09 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王允方 |
| 地址： | 美国亚*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明揭示一种用于配置循环冗余校验(CRC)产生电路以对数据流执行CRC的方法和设备。所述方法包含将与CRC等式相关联的生成多项式存储在寄存器中，其中所述生成多项式具有能够变化的长度，使得所述长度具有小于或等于与CRC产生电路相关联的位的数目的任何值。通过使用第一多路复用器产生反馈值来选择所述CRC产生电路的对应于所述生成多项式的所述长度的位位置。所述CRC产生电路经编程以基于存储在所述寄存器中的所述生成多项式和来自所述选定的位位置的所述反馈值来计算CRC校验和。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 配置 循环 冗余 校验 crc 产生 电路 数据流 执行 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于配置循环冗余校验(CRC)产生电路以对数据流执行CRC的方法，其包括：将与CRC等式相关联的生成多项式存储在寄存器中，所述生成多项式包含能够变化的长度，使得所述长度具有小于或等于与CRC产生电路相关联的位的数目的任何值；通过使用第一多路复用器产生反馈值来选择所述CRC产生电路的对应于所述生成多项式的所述长度的位位置；以及对所述CRC产生电路进行编程，以基于存储在所述寄存器中的所述生成多项式和来自所述选定的位位置的所述反馈值来计算CRC校验和。
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