[发明专利]微电子装置中的钴化学镀无效

专利信息
申请号: 200680027684.8 申请日: 2006-06-09
公开(公告)号: CN101238239A 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: 小文森特·帕纳卡西奥;陈青云;查尔斯·瓦沃尔德;尼古莱·帕特曼夫;克瑞斯蒂安·威特;理查德·赫图比斯 申请(专利权)人: 恩索恩公司
主分类号: C23C18/50 分类号: C23C18/50
代理公司: 北京金之桥知识产权代理有限公司 代理人: 梁朝玉
地址: 美国康*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种在微电子装置的制造中在金属基的基材上沉积Co或Co合金的化学镀方法和组合物,包括一种Co离子源,一种用于将沉积离子在基材上还原成金属的还原剂,及一种肟基化合物稳定剂。
搜索关键词: 微电子 装置 中的 化学
【主权项】:
1. 一种在微电子装置制造中在基材上化学沉积Co或Co合金的方法,该方法包括:将基材与一种化学沉积组合物接触,该化学沉积组合物包括一种肟基化合物稳定剂和一种Co离子源。
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