[发明专利]锁相环电路和锁相环控制方法无效
| 申请号： | 200680027843.4 | 申请日： | 2006-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN101233690A | 公开（公告）日： | 2008-07-30 |
| 发明（设计）人： | 赵辉;朴贤洙 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H03L7/091 | 分类号： | H03L7/091 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭鸿禧;常桂珍 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种具有高ISI条件的高密度光盘再现系统中的锁相环电路和锁相环控制方法，该锁相环电路和锁相环控制方法能够基于在整个范围具有预定均匀分布的模式(诸如同步模式)来检测输入信号的相位误差和频率误差。该锁相环电路包括：采样器，根据从所述锁相环电路输出的采样时钟对输入信号进行采样；模式检测信号/相位误差产生单元，如果从采样器输出的采样的输入信号具有预定模式，则产生用于指示所述预定模式的检测的模式检测信号，检测采样的输入信号和输入信号的零交叉点之间的相位误差，并输出所述相位误差；以及采样时钟产生单元，基于模式检测信号和相位误差来产生采样时钟，其中，所述预定模式是均匀分布在输入信号能够被输入的整个范围的模式。 | ||
| 搜索关键词： | 锁相环 电路 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种锁相环电路，包括：采样器，根据采样时钟输出对输入信号进行采样；模式检测信号/相位误差产生单元，如果从采样器输出的采样的输入信号具有预定模式，则所述模式检测信号/相位误差产生单元产生用于指示所述预定模式的检测的模式检测信号，检测采样的输入信号和输入信号的零交叉点之间的相位误差，并输出所述相位误差；以及采样时钟产生单元，基于模式检测信号和相位误差来产生采样时钟。
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