[发明专利]测试包含秘密信息的集成电路的方法

摘要

一种集成电路(10)，包括功能电路(12a－c)，该功能电路包含必须保密防止未授权访问的信息。该集成电路包括耦合至功能电路(12a－c)的测试访问电路(14，16)，和耦合至测试访问电路(14，16)的多个熔丝元件(18)。熔丝元件(18)按如下电路结构连接：该电路结构使得仅仅当所述多个熔丝元件中的第一熔丝元件(18)处于熔断状态并且第二熔丝元件(18)处于未熔断状态时，才使功能电路(12a－c)可经由测试访问电路(14，16)稳定访问。结果，在选择性地熔断所有第一熔丝元件(18)之后，可以测试集成电路。在测试之后，至少一部分第二熔丝元件(18)熔断。结果，对于不知道哪些熔丝元件是第一熔丝元件和哪些是第二熔丝元件的人，将集成电路恢复到其中可以进行对保密信息的访问的危险的测试访问的状态存在着困难。

主权项

1.一种测试集成电路(10)的方法，所述集成电路包括功能电路(12a-c)，耦合至功能电路(12a-c)的测试访问电路(14，16)，和耦合至测试访问电路(14，16)的多个熔丝元件(18)，所述熔丝元件(18)按如下电路结构连接：该电路结构使得仅仅当所述多个熔丝元件中的第一熔丝元件(18)处于熔断状态并且所述多个熔丝元件中的第二熔丝元件(18)处于未熔断状态时，才可经由测试访问电路(14，16)稳定地访问功能电路(12a-c)，该方法包括：获得所有第一和第二熔丝元件(18)处于未熔断状态的集成电路(10)；选择性地熔断所有第一熔丝元件(18)并保留所有第二熔丝元件(18)未熔断；然后，使用测试访问电路(14，16)执行测试；以及然后，熔断至少部分第二熔丝元件(18)。