[发明专利]具有三(二甲基酰胺)硅烷的硅酸铪材料的气相沉积无效

专利信息
申请号: 200680033018.5 申请日: 2006-09-07
公开(公告)号: CN101258586A 公开(公告)日: 2008-09-03
发明(设计)人: S·穆图克里希南;T·戈亚尼;R·谢芮哥潘尼;S·S·凯尔;P·K·那瓦卡;K·Z·阿哈穆德;Y·马 申请(专利权)人: 应用材料股份有限公司
主分类号: H01L21/31 分类号: H01L21/31;C30B29/54;C30B29/32
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 陆嘉
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的一实施例是提供一种形成形态稳定的介质材料的方法,包括:在化学气相沉积(CVD)制程中将基材暴露于一铪前驱物、一硅前驱物以及一氧化气体,以形成硅酸铪材料;接着,可选择性地将基材暴露于沉积后的退火制程、氮化制程及热退火制程。于一实验例中,金属有机CVD(MOCVD)制程中所使用的铪前驱物及硅前驱物为烷基酰胺化合物,例如:四(二乙基酰胺)铪(TDEAH)及三(二甲基酰胺)硅烷(Tris-DMAS)。于其他实施例中,可使用其他金属前驱物而形成含有钽、钛、铝、锆、镧及其混合物的多种硅酸金属盐。
搜索关键词: 具有 甲基 硅烷 硅酸 材料 沉积
【主权项】:
1.一种于基材上形成介质材料的方法,包括:将该基材暴露于含有烷基酰胺铪前驱物、烷基酰胺硅前驱物以及氧化气体的沉积气体中,以将硅酸铪材料沉积于该基材上;使该基材暴露于氮化等离子制程,以在该基材上形成一氮氧化硅铪层;以及使该基材暴露于热退火制程以形成介质材料。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料股份有限公司,未经应用材料股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200680033018.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top