[发明专利]测量超导导线的临界电流值的方法

摘要

测量超导导线(1)的临界电流值的方法包括测量第一到第m个(m表示至少为2的整数)电流值(I₁、I₂、…、I_m)和对应于第一到第m个电流值的各电流值的第一到第m个电压值(V₁、V₂、…、V_m)的步骤。通过将从恒流源(6)馈送给超导导线(1)的电流在设定为第一设定值I_1a的状态下保持恒定的时间以及随后测量流过超导导线(1)的电流和在超导导线(1)中产生的电压，来测量第一电流值I₁和第一电压值V₁。通过将从恒流源馈送给超导导线的电流在设定为高于第(k－1)个设定值的第k个设定值I_ka的状态下保持恒定的时间，随后测量流过超导导线(1)的电流和在超导导线(1)中产生的电压，来测量第k个(k表示满足2≤k≤m的整数)电流值I_k和第k个电压值V_k。因而，可以测量正确的临界电流值。

主权项

1.一种测量超导导线的临界电流值的方法，包括通过给超导导线(1)馈送电流且改变所述电流的值来测量第一到第m个(m表示至少为2的整数)电流值(I1、I2、…、Im)和对应于所述第一到第m个电流值的各电流值的第一到第m个电压值(V1、V2、…、Vm)的步骤，其中通过在恒定的时间内将从恒流源(6)馈送给所述超导导线的电流保持在设定为第一设定值的状态，随后测量流过所述超导导线的电流和在所述超导导线中产生的电压，来测量所述第一电流值和所述第一电压值，以及通过在恒定的时间内将从所述恒流源馈送给所述超导导线的电流保持在设定为高于第(k-1)个设定值的第k个设定值的状态，随后测量流过所述超导导线的电流和在所述超导导线中产生的电压，从而测量所述第k个(k表示满足2≤k≤m的整数)电流值和所述第k个电压值。