[发明专利]具有灰度的光掩模及其制造方法无效
申请号: | 200680034585.2 | 申请日: | 2006-09-19 |
公开(公告)号: | CN101268417A | 公开(公告)日: | 2008-09-17 |
发明(设计)人: | 藤川润二;岛田周;吉田雄一;佐佐木志保;天野刚;伊藤公夫;登山伸人;毛利弘 | 申请(专利权)人: | 大日本印刷株式会社 |
主分类号: | G03F1/08 | 分类号: | G03F1/08 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张雪梅;刘宗杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种具有灰度的光掩模及其制造方法,在用于减少光刻工序数的具有灰度的光掩模中,使用通用的光掩模坯料,防止遮光膜的反射率升高,且半透明膜图案形成时的对准容易,可在遮光膜图案上阶梯覆盖良好地形成半透明膜,所述具有灰度的光掩模(100),在透明基板上具有所希望的图案,且形成图案的膜由实质上不能透过曝光光的遮光膜(114)、和以所希望的透射率透过曝光光的半透明膜(113)构成,在透明基板(101)上混在按顺序层叠遮光膜(114)和半透明膜(113)而存在的遮光区域、只有半透明膜(113)存在的半透明区域、及遮光膜(114)和半透明膜(113)都不存在的透射区域,其特征在于,半透明膜(113)相对于曝光光具有防反射功能。 | ||
搜索关键词: | 具有 灰度 光掩模 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种具有灰度的光掩模,在透明基板上具有所希望的图案,且形成所述图案的膜由实质上不能透过曝光光的遮光膜、和以所希望的透射率透过所述曝光光的半透明膜构成,在所述透明基板上混在按顺序层叠所述遮光膜和所述半透明膜而存在的遮光区域、只有所述半透明膜存在的半透明区域、及所述遮光膜和所述半透明膜都不存在的透射区域,其特征在于,所述半透明膜相对于所述曝光光具有防反射功能。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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