[发明专利]CDD/CMOS传感器检测用的图像处理方法和系统无效
| 申请号： | 200680034798.5 | 申请日： | 2006-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN101268702A | 公开（公告）日： | 2008-09-17 |
| 发明（设计）人： | 雅克·亨尼斯;让－克洛德·勒克莱尔;洛朗·迪弗雷舒 | 申请（专利权）人： | 信息与电子工作室 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;G06T1/20;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 许静 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本发明的第一方面涉及图像传感器(1)的检测系统，用来检测传感器(1)提供的图像(I1－I3)，在处理过程中，对图像的每个像素都进行同样的处理，其特征在于该传感器包括多个处理模块(MT1－MT3)，每个模块都包括：带有图像区(I)的图像存储器；与存储器相连的处理器(P1－P4)，用于处理图像区(I)中存储图像的像素组。本发明还涉及图像传感器(1)的检测方法，用来检测传感器(1)提供的图像(I1－I3)，在处理过程中，对图像的每个像素都进行相同的处理，其特征在于该检测方法包括以下步骤：在多个处理模块(MT1－MT3)中存储上述图像(I1－I3)；在每个处理模块中对图像的像素组(a、b、c、d)进行运算处理。 | ||
| 搜索关键词： | cdd cmos 传感器 检测 图像 处理 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种图像传感器(1)的检测系统，用来检测传感器(1)提供的图像(I1-I3)，在处理过程中，对图像的每个像素都进行相同的运算处理，其特征在于，该传感器包括多个处理模块(MT1-MT4)，每个模块包括：带有图像区(I)的图像存储器；与存储器相连的处理器(P1-P4)，用于处理图像区(I)中存储图像的像素组。
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