[发明专利]具有双极晶体管的半导体器件和制造这种器件的方法有效

专利信息
申请号: 200680036092.2 申请日: 2006-09-22
公开(公告)号: CN101278402A 公开(公告)日: 2008-10-01
发明(设计)人: 菲利普·默尼耶-贝亚尔;雷蒙德·J·达菲;普拉巴特·阿加瓦尔;戈德弗里丢斯·A·M·胡尔克斯 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: H01L29/737 分类号: H01L29/737;H01L21/331;H01L29/08
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 陈源;张天舒
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及一种具有衬底和包含双极晶体管的硅半导体主体的半导体器件(10),该双极晶体管具有发射极区(1)、基极区(2)和集电极区(3),所述各区通过提供适当的掺杂原子而分别是N型导电性的、P型导电性的和N型导电性的,其中所述基极区(2)包括硅和锗的混合晶体,一个硅的中间区(22)把所述基极区(2)与所述发射极区分开,所述中间区具有比所述发射极区(1)的掺杂浓度低的掺杂浓度,并且其厚度小于发射极区(1)的厚度,并且所述发射极区(1)包括一个含有硅和锗的混合晶体的子区域,其位于发射极区(1)中的远离所述中间区(22)的一侧。根据本发明,所述含有硅和锗的混合晶体的子区域基本上穿过整个发射极区(1)延伸直到与中间区(22)接触,并且发射极区(1)的掺杂原子是砷原子。这种器件在中间区(22)处或在其内部具有非常陡峭的N型掺杂分布图(50)和非常陡峭的P型掺杂分布图(20),并且由此具有较高截止频率(fr)的高频性能。优选地,发射极区(1)在其上半部被掺杂有砷注入,最后的掺杂分布图是在RTA之后形成的。本发明还包括一种制造根据本发明的器件(10)的方法。
搜索关键词: 具有 双极晶体管 半导体器件 制造 这种 器件 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件(10),其具有衬底(12)和包含双极晶体管的硅半导体主体(11),该双极晶体管具有发射极区(1)、基极区(2)和集电极区(3),所述各区通过提供适当的掺杂原子而分别是N型导电性的、P型导电性的和N型导电性的,其中所述基极区(2)包括硅和锗的混合晶体,一个硅的中间区(22)把所述基极区(2)与所述发射极区(1)分开,所述硅的中间区具有比所述发射极区(1)的掺杂浓度低的掺杂浓度并且其厚度小于发射极区(1)的厚度,并且所述发射极区(1)包括一个含有硅和锗的混合晶体的子区域,该子区域位于发射极区(1)中的远离所述中间区(22)的一侧,其特征在于所述含有硅和锗的混合晶体的子区域基本上穿过整个发射极区(1)延伸直到与中间区(22)接触,并且发射极区(1)的掺杂原子是砷原子。
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