[发明专利]荧光分光分析装置

摘要

荧光分光分析装置(100)具有激励光学系(110)、激励光控制部(130)、荧光检测部(140)、信号处理部(150)以及运算部(160)。激励光学系(110)具有生成激励光的激励光照射部(120)，激励光控制部(130)控制激励光照射部(120)，使不同波长的激励光错开时间排他地照射到试样(S)。激励光照射部(120)将不同波长的激励光照射到试样(S)上的一个部位。荧光检测部(140)根据照射的激励光，检测从试样(S)产生的荧光。信号处理部(150)对反映由荧光检测部(140)得到的荧光强度的信号进行处理。运算部(160)基于激励光控制部(130)引起的照射到试样(S)的激励光的波长的变化和荧光检测部(140)的检测结果，对每一个不同波长的荧光的波动进行相关分析。

主权项

1、一种荧光分光分析装置，其特征在于，具有：激励光学单元，对试样的特定部位错开时间交替地照射波长或强度不同的光；荧光检测单元，检测从上述试样产生的荧光；信号处理单元，对上述荧光检测单元检测出的信号进行信号处理；以及运算单元，用于对上述信号处理单元生成的信号进行相关分析。