[发明专利]微电子组件及其形成方法有效
申请号: | 200680036351.1 | 申请日: | 2006-09-27 |
公开(公告)号: | CN101548406A | 公开(公告)日: | 2009-09-30 |
发明(设计)人: | 比什努·P·戈戈伊 | 申请(专利权)人: | 飞思卡尔半导体公司 |
主分类号: | H01L51/40 | 分类号: | H01L51/40 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 黄启行;穆德骏 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 根据本发明的一个方面,提供一种用于形成微电子组件的方法。该方法包括:在半导体衬底(20)上形成第一沟槽(28)和第二沟槽(30);用蚀刻停止材料(42)填充第一沟槽(28)和第二沟槽(30);在半导体衬底(20)上面形成电感器(56);在蚀刻停止层(42)和半导体衬底(20)的至少一个中形成蚀刻孔(60),以暴露出在第一沟槽(28)与第二沟槽(30)之间的衬底(20);通过蚀刻孔(60),各向同性地蚀刻在第一沟槽(28)与第二沟槽(30)之间的衬底(20),以在衬底(20)中形成穴(66);以及在蚀刻孔(60)上面形成密封层(70)以将穴密封。 | ||
搜索关键词: | 微电子 组件 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
1. 一种用于形成微电子组件的方法,包括:在半导体衬底上形成第一沟槽和第二沟槽;用蚀刻停止材料填充所述第一沟槽和所述第二沟槽;在所述半导体衬底上面形成电感器;在所述蚀刻停止层和所述半导体衬底的至少一个中形成蚀刻孔,以暴露出在所述第一沟槽与所述第二沟槽之间的衬底;通过所述蚀刻孔,各向同性地蚀刻在所述第一沟槽与所述第二沟槽之间的所述衬底,以在所述衬底中形成穴;以及在所述蚀刻孔上面形成密封层以将所述穴密封。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择
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