[发明专利]微电子组件及其形成方法有效

专利信息
申请号: 200680036351.1 申请日: 2006-09-27
公开(公告)号: CN101548406A 公开(公告)日: 2009-09-30
发明(设计)人: 比什努·P·戈戈伊 申请(专利权)人: 飞思卡尔半导体公司
主分类号: H01L51/40 分类号: H01L51/40
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 黄启行;穆德骏
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 根据本发明的一个方面,提供一种用于形成微电子组件的方法。该方法包括:在半导体衬底(20)上形成第一沟槽(28)和第二沟槽(30);用蚀刻停止材料(42)填充第一沟槽(28)和第二沟槽(30);在半导体衬底(20)上面形成电感器(56);在蚀刻停止层(42)和半导体衬底(20)的至少一个中形成蚀刻孔(60),以暴露出在第一沟槽(28)与第二沟槽(30)之间的衬底(20);通过蚀刻孔(60),各向同性地蚀刻在第一沟槽(28)与第二沟槽(30)之间的衬底(20),以在衬底(20)中形成穴(66);以及在蚀刻孔(60)上面形成密封层(70)以将穴密封。
搜索关键词: 微电子 组件 及其 形成 方法
【主权项】:
1. 一种用于形成微电子组件的方法,包括:在半导体衬底上形成第一沟槽和第二沟槽;用蚀刻停止材料填充所述第一沟槽和所述第二沟槽;在所述半导体衬底上面形成电感器;在所述蚀刻停止层和所述半导体衬底的至少一个中形成蚀刻孔,以暴露出在所述第一沟槽与所述第二沟槽之间的衬底;通过所述蚀刻孔,各向同性地蚀刻在所述第一沟槽与所述第二沟槽之间的所述衬底,以在所述衬底中形成穴;以及在所述蚀刻孔上面形成密封层以将所述穴密封。
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