[发明专利]静电放电保护器件无效
申请号: | 200680037030.3 | 申请日: | 2006-10-05 |
公开(公告)号: | CN101283452A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
发明(设计)人: | 法布里斯·勃朗;弗雷德里克·F·巴尔比耶 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L21/336 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈源;张天舒 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明提供了一种静电放电(ESD)保护器件,该器件具有增强的对ESD产生的电流的进行放电的能力以及减小的器件面积。ESD保护器件包括栅极接地的MOS晶体管(1),该晶体管具有被第二半导体类型的第一阱区域(7)插入的第一半导体类型的源极区域(3)和漏极区域(4)。在源极区域(3)和漏极区域(4)下面提供了被第一阱区域(7)插入的第一半导体类型的第二阱区域(6)。在阱区域(6,7)下面分别提供了与阱区域(6,7)毗邻的同一半导体类型的重掺杂掩埋区域(8,9)。 | ||
搜索关键词: | 静电 放电 保护 器件 | ||
【主权项】:
1.一种静电放电保护器件,其被布置在第二半导体类型的半导体衬底(2)中,所述静电放电保护器件包括:第一半导体类型的源极区域(3)和漏极区域(4);栅极区域(5),其在第二半导体类型的第一阱区域(7)上延伸,所述第一阱区域(7)被布置在所述源极区域(3)和所述漏极区域(4)之间;第一半导体类型的第二阱区域(6),其在所述源极区域(3)下面和所述漏极区域(4)下面,所述第一阱区域(7)被布置在所述源极区域(3)下面的所述第二阱区域(6)和所述漏极区域(4)下面的所述第二阱区域(6)之间;第二半导体类型的第一掩埋区域(9),其在所述第一阱区域(7)下面;第一半导体类型的第二掩埋区域(8),其在所述第二阱区域(6)下面;其中,所述第一掩埋区域(9)和所述第二掩埋区域(8)具有比所述第一阱区域(7)和所述第二阱区域(6)更高的掺杂水平。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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