[发明专利]测量电子元件和组件中六价铬的方法无效
| 申请号： | 200680037792.3 | 申请日： | 2006-10-05 |
| 公开（公告）号： | CN101375154A | 公开（公告）日： | 2009-02-25 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·里斯;海克·舒马赫;朱利安·斯米尔诺 | 申请（专利权）人： | 摩托罗拉公司 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22;G01N23/227 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 陆锦华;黄启行 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 电子元件和组件中的六价铬用X－射线荧光光谱分析样品以确定基质来测量。基于所确定的基质，从多种提取及分析方案中选择方案，并用所选择的方案从样品中提取六价铬。所提取的六价铬与1，5二苯卡巴阱反应，并通过紫外光谱用每一种鉴定基质的独特的校准曲线测量。基于所测量的六价铬的量，计算作为样品单位面积的函数的六价铬的浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 电子元件 组件 中六价铬 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量电子元件和组件中六价铬的方法，包括：提供包含电子元件或组件的样品；用X-射线荧光光谱分析至少一部分样品，以确定基质；如果基质是铝，那么用第一参数组来提取和分析六价铬的量；如果基质是锌，那么用第二参数组来提取和分析六价铬的量；如果基质是皮革，那么用第三参数组来提取和分析六价铬的量；如果基质是镀钢，那么用第四参数组来提取和分析六价铬的量；如果基质是印刷电路板或印刷电路组件，那么用第五参数组来提取和分析六价铬的量；如果基质是除了铝、锌、皮革、镀钢、印刷电路板或印刷电路组件之外的材料，那么用第六参数组来提取和分析六价铬的量；以及基于所分析的六价铬的量，计算作为样品单位面积的函数的六价铬的浓度。
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