[发明专利]用于检测电子束的多层检测器和方法有效

专利信息
申请号: 200680040009.9 申请日: 2006-10-10
公开(公告)号: CN101297219A 公开(公告)日: 2008-10-29
发明(设计)人: 安德斯·克里斯蒂安松;拉尔斯·奥克·内斯隆德;汉斯·哈尔斯坦迪斯 申请(专利权)人: 利乐拉瓦尔集团及财务有限公司
主分类号: G01T1/18 分类号: G01T1/18;H01J47/14
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 章社杲;吴贵明
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 披露了一种用于检测电子束(106)强度的检测器和方法,一种示例性的检测器包括多层复合结构(104),其具有导电芯(110)、形成在该导电芯(110)上的绝缘层(112)以及电连接到电压电位并形成在该绝缘层(112)上的外部导电层(114)。支撑件(116)配置为在该电子束发生器(102)和目标区域(108)之间,将该导电芯(110)设置为与电子束发生器(102)对准,并位于将由该电子束发生器(102)产生的电子束(106)的直接路径内。
搜索关键词: 用于 检测 电子束 多层 检测器 方法
【主权项】:
1.一种用于检测产生的电子束(106)的强度的检测器,其包括:多层复合结构(104;200;300;400;500;600;608;616;700;800),其具有导电芯(110;402;502;504;602;610;618;704;706;802)、形成在该导电芯上的绝缘层(112;404;506;508;604;612;620;708;804)以及电连接到电压电位并形成在该绝缘层上的外部导电层(114;406;510;606;614;622;702;806),以及支撑件(116),其配置为在将由该电子束发生器(102)产生的电子束(106)的直接路径内,在该电子束发生器(102)和目标区域(108)之间,将该复合结构设置为与电子束发生器(102)对准。
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