[发明专利]用于测量材料密度的方法、系统及计算机程序产品有效
| 申请号： | 200680040215.X | 申请日： | 2006-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN101297175A | 公开（公告）日： | 2008-10-29 |
| 发明（设计）人： | R·E·特克斯勒;W·H·L·德普 | 申请（专利权）人： | 特克斯勒电子实验室公司 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 蹇炜 |
| 地址： | 美国北*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于测量材料密度的方法、系统及计算机程序产品。根据一方面，公开了一种用于测量样品建筑材料的密度的核子密度测量计。所述测量计包括辐射源，安置在样品建筑材料内部并适于从所述样品建筑材料内部发射辐射。此外，辐射探测器与所述辐射源分开安置。并且所述辐射探测器可用于产生表示探测的辐射的能量水平的信号。材料性质计算功能元件配置为基于由所述辐射探测器产生的所述信号来计算与所述样品建筑材料的密度相关的值。此外，辐射源可以安置在样品建筑材料的表面并且适于朝向所述样品建筑材料的表面发射辐射。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 材料 密度 方法 系统 计算机 程序 产品 | ||
【主权项】：
1、一种用于测量样品建筑材料的密度的核子密度测量计，所述核子密度测量计包括：(a)辐射源，安置在样品建筑材料内部并适于从所述样品建筑材料内部发射辐射；(b)辐射探测器，与所述辐射源分开安置并可用于产生表示探测的辐射的能量水平的信号；以及(c)材料性质计算功能元件，配置为基于由所述辐射探测器产生的所述信号来计算与所述样品建筑材料的密度相关的值。
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