[发明专利]减少X射线探测器中3D伪影的方法有效
| 申请号： | 200680041710.2 | 申请日： | 2006-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN101304689A | 公开（公告）日： | 2008-11-12 |
| 发明（设计）人： | P·G·范德哈尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01T1/20 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 黄睿;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种至少减少关于对象获得的X射线图像中出现差别伪影的方法，其中至少每天执行一次所述去伪影扫描以产生潜在的强均匀伪影，以使得最小化在随后扫描期间的差别(非均匀)伪影。该去伪影扫描包括在X射线源(4)和探测器(5)间没有对象时，以相对较高探测器剂量获得“空气”图像。 | ||
| 搜索关键词： | 减少 射线 探测器 方法 | ||
【主权项】：
1、一种减少使用X射线系统关于对象获得的X射线图像中差别伪影的方法，其中所述X射线系统包括X射线源(4)，用于照射所述对象；还包括X射线探测器(5)，用于接收穿过所述对象的X辐射并产生表示其强度分布的电信号，所述X射线探测器包括用于接收入射其上的X辐射并将所述X辐射转换成光辐射的闪烁体(11)，所述方法包括：在所述X射线源(4)和X射线探测器(5)之间没有对象的时候，通过使所述X射线源(4)产生X辐射束并使所述探测器(5)接收所述X辐射并产生表示均匀伪影的电信号，来周期性地获得去伪影扫描，其中所述均匀伪影是由所述X辐射入射其上的所述探测器(5)导致的。
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