[发明专利]磁盘基底及其磁记录介质无效
申请号: | 200680046929.1 | 申请日: | 2006-11-29 |
公开(公告)号: | CN101331542A | 公开(公告)日: | 2008-12-24 |
发明(设计)人: | 会田克昭;町田裕之 | 申请(专利权)人: | 昭和电工株式会社 |
主分类号: | G11B5/73 | 分类号: | G11B5/73;G11B5/82 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 杨晓光;李峥 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种磁盘基底,其中通过使用用于通用盘的干涉仪在5.0mm的测量波长下测得的在表面上的波纹的振幅Wa在0.1nm至0.5nm的范围内,通过使用用于三维表面结构分析的显微镜方法在30μm至200μm的测量波长下测得的在波纹上产生的微波纹的平均振幅Wb为0.3nm以下,并且通过将微波纹的平均振幅Wb除以波纹的振幅Wa计算得到的值为0.6以上。 | ||
搜索关键词: | 磁盘 基底 及其 记录 介质 | ||
【主权项】:
1.一种磁盘基底,其中通过使用用于通用磁盘的干涉仪在5.0mm的测量波长下测得的在表面上的波纹的振幅Wa在0.1nm至0.5nm的范围内;通过使用用于三维表面结构分析的显微镜方法在30μm至200μm的测量波长下测得的在所述波纹上产生的微波纹的平均振幅Wb为0.3nm以下;并且通过将所述微波纹的平均振幅Wb除以所述波纹的振幅Wa计算得到的Wb/Wa的值为0.6以上。
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