[发明专利]测试装置和插脚电子卡无效
| 申请号： | 200680047293.2 | 申请日： | 2006-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN101331405A | 公开（公告）日： | 2008-12-24 |
| 发明（设计）人： | 松本直木;关野隆 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种测试装置，该装置包括：将测试信号输出给被测试器件的激励器；将激励器与被测试器件电连接的第一传送路径；设置在第一传送路径中，切换是否连接激励器和被测试器件的第一FET开关；比较被测试器件的输出信号的电压和预先设定的参考电压的比较器；在第一传送路径中，从第一FET开关和被测试器件之间分路出的、连接第一传送路径和比较器的第二传送路径；设置在第二传送路径中的、切换是否连接比较器和被测试器件的第二FET开关；检测输出信号、根据检测的输出信号对第一FET开关的电容成分进行充放电的电容补偿部。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 插脚 电子卡 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，用于测试被测试器件，其特征在于包括：将测试信号输出到所述被测试器件中的激励器；电连接所述激励器和所述被测试器件的第一传送路径；设置在所述第一传送路径中的、切换是否连接所述激励器和所述被测试器件的第一FET开关；比较所述被测试器件的输出信号电压和预先设定的参考电压的比较器；在所述第一传送路径中，从所述第一FET开关和所述被测试器件之间分路，连接所述第一传送路径和所述比较器的第二传送路径；设置在所述第二传送路径中的、切换是否连接所述比较器和所述被测试器件的第二FET开关；检测所述输出信号，根据检测的所述输出信号，对所述第一FET开关的电容成分进行充放电的电容补偿部。
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