[发明专利]蚀刻光刻基片的改进的方法有效
申请号: | 200680047345.6 | 申请日: | 2006-12-07 |
公开(公告)号: | CN101331431A | 公开(公告)日: | 2008-12-24 |
发明(设计)人: | 贾森·普卢姆霍夫 | 申请(专利权)人: | 奥立孔美国公司 |
主分类号: | G03F1/08 | 分类号: | G03F1/08 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 夏凯;钟强 |
地址: | 美国佛*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供一种在真空室内处理光刻基片的方法。该方法包括在对该光刻基片在该真空室内进行处理之前将该光刻基片冷却到目标温度的步骤。将至少一种处理气体引入该真空室。在该光刻基片达到该目标温度后,从该处理气体中激发等离子体,其中使用该等离子体对该光刻基片进行处理。在处理完成后,将该光刻基片从该真空室中卸载。 | ||
搜索关键词: | 蚀刻 光刻 改进 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于处理光刻基片的方法,包括:将该光刻基片装载到真空室内;将该光刻基片冷却到目标温度;将至少一种处理气体引入所述真空室;在所述冷却步骤之后,从所述处理气体激发等离子体;使用所述等离子体处理该光刻基片;以及从所述真空室卸载该光刻基片。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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