[发明专利]密封状态检查装置和密封状态检查方法有效
| 申请号： | 200680048160.7 | 申请日： | 2006-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN101341400A | 公开（公告）日： | 2009-01-07 |
| 发明（设计）人： | 木下滋弘 | 申请（专利权）人： | 利乐拉瓦尔集团及财务有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/92 | 分类号： | G01N27/92;G01M3/16 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王岳;刘宗杰 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 本发明提供一种密封状态检查装置和密封状态检查方法，通过该装置和方法使非破坏性检查变得容易，而无需切割或打开纸制容器和切割容器壁制备样品，以及在生产线上检查所有产品。解决问题的方法：一种叠层包转材料由热塑性材料最外层、纸基材料层、导电阻挡层和热封最内层构成。一种装置检查开口部分，通过至少局部切割热封材料最外层和纸基材料层并以容易打开的状态密封形成该开口部分。在该装置中，将探针电极和接地电极配置在开口部分的外侧和内侧，用导电阻挡层检测探针电极和接地电极之间的电流，并用检测工具检查开口部分的密封状态。 | ||
| 搜索关键词： | 密封 状态 检查 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种密封状态检查装置，所述装置检查配置在具有热塑性最外层、纸制衬底层、导电阻挡层和可热封的最内层的叠层包装材料上的开口，通过部分切割至少所述热塑性最外层和纸制衬底层来制备所述开口，还以容易打开的状态密封所述开口，其中在所述开口的外侧和内侧提供探针电极和接地电极；用所述导电阻挡层检测所述探针电极和接地电极之间的电流流动；以及用测定单元检查所述开口的密封状态。
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