[发明专利]探针卡有效

专利信息
申请号: 200680049212.2 申请日: 2006-12-20
公开(公告)号: CN101346633A 公开(公告)日: 2009-01-14
发明(设计)人: 山田佳男;中山浩志;长屋光浩;蔺牟田正吾 申请(专利权)人: 日本发条株式会社
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;H01L21/66
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种探针卡,该探针卡无论检查时的温度环境如何,都能可靠地使探针与接触对象接触。为了达到上述目的,采用下述结构,包括:多个探针,由导电性材料构成,与所述半导体晶片具有的电极焊盘接触,以进行电信号的输入或输出;探针头,其收容并保持所述多个探针;基板,其具有与所述电路结构对应的布线图案;和间隔变换器,其层叠于所述探针头,改变所述基板具有的所述布线图案的间隔并进行中继,具有对应于该中继后的布线并设置在与所述探针头相对向一侧的表面上的电极焊盘,所述探针的两端,在具有检查所述半导体晶片时的最低温度和最高温度的平均温度的环境下,与所述半导体晶片以及所述间隔变换器分别具有的所述电极焊盘的中央部附近接触。
搜索关键词: 探针
【主权项】:
1.一种探针卡,其对作为检查对象的半导体晶片和生成检查用信号的电路结构之间进行电连接,其包括:多个探针,由导电性材料构成,与所述半导体晶片具有的电极焊盘接触,以进行电信号的输入或输出;探针头,其收容并保持所述多个探针;基板,其具有与所述电路结构对应的布线图案;和间隔变换器,其层叠于所述探针头,改变所述基板具有的所述布线图案的间隔并进行中继,具有对应于该中继后的布线并设置在与所述探针头相对向一侧的表面上的电极焊盘,所述探针的两端,在具有检查所述半导体晶片时的最低温度和最高温度的平均温度的环境下,与所述半导体晶片以及所述间隔变换器分别具有的所述电极焊盘的中央部附近接触。
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