[发明专利]用于光存储介质的分析的装置和方法无效
| 申请号： | 200680050599.3 | 申请日： | 2006-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN101356504A | 公开（公告）日： | 2009-01-28 |
| 发明（设计）人： | J·A·奥夫德黑德;J·H·埃克曼;I·B·弗里曼;J·C·迈尔;C·C·B·帕蒂;T·J·斯克威奥特 | 申请（专利权）人： | 切克弗里克斯公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 曾祥夌;刘华联 |
| 地址： | 美国科*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了能够检测光存储介质上的表面缺陷的各种装置和相关方法。装置的一个示例构造成将可来自一个或两个激光器的至少一个光信号引导到光存储介质的外表面，该光存储介质为包括编码数据的诸如CD、DVD或其它介质。光遇到光存储介质表面以及其上的任意污迹、划痕、凹痕或其它缺陷。从缺陷和表面反射的一些或全部的光由可为光电二极管的一个或多个检测器检测。检测器产生与检测到的反射光相当的输出信号，其输出被处理以确定是否可从光存储介质精确地读出编码数据。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 存储 介质 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于分析光存储介质的表面的方法，包括：将至少一个光信号引导到光存储介质的外表面上，所述光存储介质包括编码的数据；检测从所述光存储介质的所述外表面反射的至少一个光信号的若干部分；以及与检测从所述外表面反射的至少一个光信号的若干部分相关地判定所述编码的数据是否可以与准确地读取。
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