[发明专利]用于检测工件几何形状的系统和方法有效

专利信息
申请号: 200680050880.7 申请日: 2006-12-06
公开(公告)号: CN101356417A 公开(公告)日: 2009-01-28
发明(设计)人: 德克·扬 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/24;G05B19/4097
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 张亮
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于检测工件(1)的几何形状的系统和方法。为了简化加工工件(1)时对制造策略的优化,本发明提出的解决方案是:所述系统具有至少一个摄像机(2)、一个用于存储标称几何值的存储区、确定构件和计算构件,其中,所述摄像机用于在加工步骤开始之前为所述工件(1)摄制至少一个图像,所述标称几何值是所述加工步骤结束后工件(1)应该具有的几何值,所述确定构件用于根据所述至少一个图像确定工件几何值,所述工件几何值是所述加工步骤开始之前工件(1)具有的几何值,所述计算构件用于计算用以描述所述工件几何值与所述标称几何值之差的几何差值(3)。
搜索关键词: 用于 检测 工件 几何 形状 系统 方法
【主权项】:
1.一种系统,所述系统用于确定一个工件(1)因一个加工步骤而产生的几何形状变化,其包括:至少一个摄像机(2),所述摄像机用于在所述加工步骤开始之前为所述工件(1)摄制至少一个图像,一个用于存储标称几何值的存储区,这些标称几何值是所述加工步骤结束后所述工件(1)应该具有的几何值,确定构件,该确定构件用于根据所述至少一个图像确定工件几何值,这些工件几何值是所述加工步骤开始之前所述工件(1)具有的几何值,计算构件,该计算构件用于计算用以描述所述工件几何值与所述标称几何值之差的几何差值(3)。
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