[发明专利]基于荧光的检测方法和设备

摘要

用于检测来自一种试样的荧光辐射的发射的设备，这种荧光辐射的发射响应于通过两个或更多的不同辐射源(145、160)的在相同时间段的激发，在这种设备中，用一种调制方式标记每个辐射源(145、160)，然后，能够在所发射的荧光辐射中单独检测这种调制方式。例如，在基于荧光谐振能量转移(“FRET”)的技术中，可根据不同的调制方式对至两个或更多不同的LED源(145、160)的驱动电流进行频率调制或脉宽调制。然后，可通过不同的调制方式单独检测这种试样的对这些源(145、160)中的每一个的响应，如含在这种试样中的不同供体/受体探针的响应，即便是在这些响应的波长或波长范围相同或重叠的情况下也是如此。

主权项

1.一种用于检测来自试样的荧光辐射的发射的设备，所述荧光辐射的发射响应于辐射源的激发，所述设备包括：i)试样辐照器，所述试样辐照器用于在相同的时间段用来自至少两个源的激发辐射照射所述试样，所述两个源提供不同波长的激发辐射；ii)调制装置，所述调制装置用于根据各自不同的调制方式调制所述至少两个源中的每一个的激发辐射；以及iii)发射检测器，所述发射检测器用于检测来自所述试样的荧光辐射的发射，其中，所述发射检测器适合于检测所发射的辐射的各自不同的调制方式中的每一个，以使能够单独检测所述试样对所述至少两个源的响应。