[发明专利]用于测量薄片性质的光学扫描仪有效
| 申请号： | 200680053095.7 | 申请日： | 2006-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN101379391A | 公开（公告）日： | 2009-03-04 |
| 发明（设计）人： | H·M·凯;S·蒂克西耶 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔国际公司 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89;G01J3/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王岳;王小衡 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及一种和红外光谱仪一起使用的光学扫描仪。该光学扫描仪转移辐射光束到移动薄片材料上的固定点以便在该光谱仪内实现足够的积分时间。光束路径碰撞到移动织物上并且辐射被移动织物反射回来穿过光学扫描仪且在干涉仪处重新结合。辐射光束相对于移动薄片材料和收容光谱仪的托架两者保持固定。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 薄片 性质 光学 扫描仪 | ||
【主权项】：
1、一种用于测量行进的薄片材料的性质的光谱仪，所述光谱仪包括:向所述行进的薄片材料发射辐射的源(120)；用于分开所述发射的辐射和与所述行进的薄片材料相互作用之后的辐射的分束器(160)；用于向所述行进的薄片材料引导所述发射的辐射的光学扫描仪(330)；以及用于测量与所述行进的薄片材料相互作用之后的辐射的探测器(310)，其中所述光学扫描仪(330)被构造成扫描所述辐射以抵消所述行进的薄片材料的运动。
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