[发明专利]色谱仪质量分析装置

摘要

一种色谱仪质量分析装置，适当设定测定时间范围，能够选择扫描测定、选择离子监测(SIM)测定或扫描/SIM同时测定的任一种，在进行测定条件表格的输入设定时，在显示部的画面上显示通过扫描测定标准试料得到的总离子色谱(51)、和预先制作的化合物表格(52)。操作人选定作为扫描/SIM测定的对象的化合物，向化合物表格(52)中的复选框输入标记，点击操作“自动制作”按钮(54)。这样，确定在选择的化合物的保持时间的前后带有规定的时间幅度的测定时间范围，自动制作在该范围内执行将对化合物赋予特征的质量数作为测定质量数的扫描/SIM同时测定的测定条件表格(53)而显示。

主权项

1. 一种色谱仪质量分析装置，其是将利用色谱仪在时间方向上分离的试料成分依次导入至质量分析部来执行质量分析的色谱仪质量分析装置，其可以有选择地执行如下所述的测定，即：在所述质量分析部反复进行在规定的质量数范围内的连续的质量扫描的扫描测定；对于特定的质量数，将一个质量数维持一定时间，同时阶段性地切换质量数的SIM测定；在扫描测定进行的质量扫描的中途执行SIM测定的扫描/SIM同时测定，所述色谱仪质量分析装置的特征在于，具备：a)显示控制机构，其在显示部的画面上显示预先制作的将化合物的种类、该化合物的标准的保持时间及对该化合物赋予特征的质量数形成为一览表的化合物表格；b)选择机构，其用于使操作人从显示的所述化合物表格中选择欲执行扫描/SIM同时测定的化合物；c)测定条件表格制作机构，其将测定条件表格如下作成：对于由所述选择机构选择的1至多个化合物的保持时间，在该保持时间的前后分别设定规定的时间幅度并在该时间范围内进行扫描/SIM同时测定，在该时间范围以外的时间范围内执行扫描测定或SIM测定。