[发明专利]电子元件测试装置及电子元件的测试方法无效
| 申请号： | 200680056709.7 | 申请日： | 2006-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN101563620A | 公开（公告）日： | 2009-10-21 |
| 发明（设计）人： | 金子裕史;山下和之 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 | 代理人： | 高占元 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明之目的在于提供能够缩短测试托盘在停滞情况下的时间损失的电子元件测试装置及电子元件的测试方法，其中，在IC器件搭载于测试托盘TST的状态下将IC器件与测试头(5)的插座50电接触而进行IC器件测试的电子元件测试装置(1)设有将测试托盘TST在电子元件测试装置(1)内按规定方向循环搬送的搬送系统(9)，该搬送系统(9)能够将测试托盘TST整体地或部分地朝与所述规定方向相反的方向上搬送。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电子元件测试装置，用于在被测电子元件搭载于托盘的状态下使所述被测电子元件与测试头的接触部电接触而进行所述被测电子元件的测试，其中：设有在所述电子元件测试装置内朝规定方向循环搬送所述托盘的搬送系统，所述搬送系统能够朝与所述规定方向相反的相反方向整体地或部分地搬送所述托盘。
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