[发明专利]用于对待测设备进行测试的测试器、方法和计算机程序有效
| 申请号： | 200680056750.4 | 申请日： | 2006-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN101568845A | 公开（公告）日： | 2009-10-28 |
| 发明（设计）人： | 马丁·史密茨 | 申请（专利权）人： | 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 宋 鹤;南 霆 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 一种用于对待测设备进行测试的测试器包括第一通道单元和第二通道单元。第一通道单元包括用于来自待测设备的信号的相应第一管脚连接，适用于至少部分地对从第一管脚连接获得的数据进行处理的相应第一测试处理器，以及与第一测试处理器耦合并且适用于存储由第一测试处理器提供的数据的相应第一存储器。第一通道单元适用于将从第一管脚连接获得的数据的至少一部分作为传送数据传送到第二通道单元。第二通道单元包括适用于至少部分地对来自第一通道单元的传送数据进行处理的相应第二测试处理器。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 对待 设备 进行 测试 方法 计算机 程序 | ||
【主权项】：
1.一种用于对待测设备进行测试的测试器(100；200；300；400)，所述测试器包括：第一通道单元(110；210；310；41011)，所述第一通道单元包括用于来自待测设备(4101)的信号(346)的相应第一管脚连接(132；216；316)，适用于至少部分地对从所述第一管脚连接获得的数据进行处理的相应第一测试处理器(112；212)，以及与所述第一测试处理器耦合并且适用于存储由所述测试处理器提供的数据的相应第一存储器(114；214)；以及第二通道单元(120；220；320；42012)；其中，所述第一通道单元适用于将从所述第一管脚连接获得的数据的至少一部分作为传送数据传送到所述第二通道单元，并且其中，所述第二通道单元包括适用于至少部分地对来自所述第一通道单元的传送数据进行处理的相应第二测试处理器(122；222)。
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