[发明专利]ZIF连接器针测卡及其装配方法、晶片测试系统及测试方法

摘要

本发明揭示一种具有可拆卸调节的ZIF连接器的针测卡组成，主要包含针测基板、多个ZIF连接器与多个可拆卸调节的锁合元件。上述的针测基板是呈圆盘板状，具有第一表面、第二表面与多群垂直贯穿基板第一表面与第二表面的第一贯穿孔，此多群第一贯穿孔是朝向针测基板中心、以环状排列的，第一表面的多群第一贯穿孔的两侧设有成对排列的第一电气接点。多个针测端子突出于针测基板的第二表面，用以与晶片接触与测试电性讯号。多个ZIF连接器朝向上述的针测基板中心、以环状排列于针测基板的第一表面，每一个ZIF连接器具有多个平行的第二贯穿孔，自ZIF连接器顶面贯穿至底面，每一个ZIF连接器底部设有成对的电气端子，用以对应接触至上述的针测基板的第一电气接点。其中多个可拆卸调节的锁合元件，穿过第一贯穿孔与第二贯穿孔，而将ZIF连接器锁固于针测基板的第一表面。

主权项

1. 一种具有ZIF连接器的针测卡，包含：针测基板，呈圆盘板状，具有第一表面、第二表面与多群垂直贯穿基板第一表面与第二表面的第一贯穿孔，该多群第一贯穿孔是朝向针测基板中心、以环状排列的，该第一表面的多群第一贯穿孔的两侧设有成对排列的第一电气接点；多个针测端子，突出于该针测基板的第二表面；以及多个ZIF连接器，朝向该针测基板中心、以环状排列于该针测基板的第一表面，每一个该ZIF连接器具有多个平行的第二贯穿孔，自ZIF连接器顶面贯穿至底面，每一个该ZIF连接器底部设有成对的电气端子，用以对应接触至该针测基板的第一电气接点；其特征在于多个可拆卸调节的锁合元件，穿过该第一贯穿孔与第二贯穿孔，而将ZIF连接器锁固于该针测基板的第一表面。