[发明专利]光学拾取装置无效

专利信息
申请号: 200710005764.X 申请日: 2007-02-13
公开(公告)号: CN101192428A 公开(公告)日: 2008-06-04
发明(设计)人: 木村茂治;岛野健 申请(专利权)人: 株式会社日立媒介电子
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135;G11B7/13;G11B7/125
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 曲瑞
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种光学拾取装置,所要解决的技术问题是:在利用差动推挽法对多层光盘进行循轨时,来自相邻层的反射光成为杂散光,从而对循轨控制信号或数据信号产生坏影响。本发明的光学拾取装置利用象差的影响小的会聚透镜使包含来自相邻层的杂散光在内的、来自光盘的反射光会聚一次,并利用具有部分反射区域的反射镜进行反射。该反射光是杂散光的影响减小的反射光,通过偏振光束分光器后,利用有象散的会聚透镜使该反射光入射到4分割检测器(主光线用)和2分割检测器(副光线用)。
搜索关键词: 光学 拾取 装置
【主权项】:
1.一种光学拾取装置,其特征在于,具有:激光光源;会聚光学系统,将来自上述激光光源的激光分割成主光线和副光线,并使上述主光线和副光线会聚在多层光信息存储媒体的一个记录层上;和检测光学系统,检测从上述多层光信息存储媒体的上述记录层反射的反射光,其中,上述检测光学系统包括:光学系统,使来自上述记录层的反射光缩小范围;反射板,在由上述光学系统缩小了范围的上述主光线的光斑位置以及上述副光线的光斑位置上分别独立地设置有反射区域;有象散的会聚元件;和光检测器,具备检测上述主光线的检测元件以及检测上述副光线的检测元件,其中通过由上述有象散的会聚元件将由上述反射板反射后的反射光会聚在上述光检测器上来进行检测。
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