[发明专利]集成电路有效
申请号: | 200710007904.7 | 申请日: | 2007-01-30 |
公开(公告)号: | CN101140921A | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
发明(设计)人: | 刘重希 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/522 | 分类号: | H01L23/522;H01L27/02 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种集成电路,包括金属层,位于金属层中的第一金属线,以及耦接到第一金属线的第一介层窗。第一介层窗具有第一介层窗宽,以及距离位于邻近金属线上最接近介层窗的第一孔距,其中第一孔距为金属层中所有介层窗中的最小孔距。此集成电路还包括位于上述金属层中的第二金属线,以及耦接到第二金属线的第二介层窗。第二介层窗具有第二孔距,第二孔距大于约1.1倍的上述第一孔距。第二介层窗具有第二介层窗宽,第二介层窗宽大于上述第一介层窗宽但不超过约1.4倍的上述第一介层窗宽。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 | ||
【主权项】:
1.一种集成电路,包括:一金属层;一第一金属线,位于所述金属层中;一第一介层窗,耦接到所述第一金属线,其中所述第一介层窗具有第一介层窗宽,以及距离位于一邻近金属线上的一最接近介层窗的第一孔距,并且其中所述第一孔距为所述金属层中所有介层窗中的最小孔距;一第二金属线,位于所述金属层中;以及一第二介层窗,耦接到所述第二金属线,其中所述第二介层窗具有第二孔距,所述第二孔距大于约1.1倍的所述第一孔距,并且其中所述第二介层窗具有第二介层窗宽,所述第二介层窗宽大于所述第一介层窗宽但不超过约1.4倍的所述第一介层窗宽。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710007904.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。