[发明专利]一种用于快速精确检测电磁继电器的衔铁超行程的方法及其装置有效
| 申请号： | 200710009738.4 | 申请日： | 2007-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN101201390A | 公开（公告）日： | 2008-06-18 |
| 发明（设计）人： | 黄朝晖;郑锦义;曾建军 | 申请（专利权）人： | 厦门顶科电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 | 代理人： | 连耀忠 |
| 地址： | 361000福建省厦门市*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于快速精确检测电磁继电器的衔铁超行程的方法及其装置，是在电磁继电器线圈上施加一个激励电压，用触点监测电路获取继电器的触点接通情况，用电流采样电路获取线圈上逐渐增大的电流，触点监测电路和电流采样电路的信号分别送至微处理器MCU，由微处理器MCU分析判断触点接通的时间并将该时间记为t1，微处理器MCU分析判断逐渐增大的电流出现拐点的时间并将该时间记为t2，电流出现拐点的时间与触点信号接通的时间的差值即为该继电器的衔铁超行程的相对值。该方法既能快速、精确地判断出电磁继电器的衔铁超行程的相对值，又有操作简单，可实现自动测量的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 快速 精确 检测 电磁 继电器 衔铁 行程 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于快速精确检测电磁继电器的衔铁超行程的方法，其特征在于：是在电磁继电器线圈上施加一个激励电压，用触点监测电路获取电磁继电器的触点接通情况，触点接通的信号送给微处理器MCU，由微处理器MCU分析判断触点接通的时间并将该时间记为t1；与此同时，用电流采样电路获取线圈上逐渐增大的电流，该电流信号经放大后送至微处理器MCU，由微处理器MCU分析判断逐渐增大的电流出现拐点的时间并将该时间记为t2；微处理器MCU将电流出现拐点的时间t2与触点信号接通的时间t1之间的差值记为T，该T值即为该继电器的衔铁超行程的相对值。
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