[发明专利]微机电系统器件与集成电路的集成方法及集成芯片有效

专利信息
申请号: 200710044324.5 申请日: 2007-07-27
公开(公告)号: CN101355038A 公开(公告)日: 2009-01-28
发明(设计)人: 李刚;胡维 申请(专利权)人: 李刚
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60;H01L25/00;H01L23/31;H01L23/488;B81C5/00
代理公司: 上海光华专利事务所 代理人: 余明伟
地址: 201203上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种微机电系统器件与集成电路的集成方法及集成芯片,首先提供一具有第一电气连接点及MEMS器件的第一芯片及一具有第二电气连接点及集成电路的第二芯片,然后在第一电气连接点上生成第一附加导电点,同时环绕MEMS器件生成一第一封装环,并在第二电气连接点上生成第二附加导电点,同时在第二芯片上生成一第二封装环,最后将第一芯片与第二芯片对接,并使第一附加导电点与第二附加导电点融合对接以完成MEMS器件与集成电路的电气连接,同时,使所述第一封装环和所述第二封装环融合对接以将MEMS器件密封于环内,如此可降低封装成本,同时还能缩短MEMS器件与集成电路之间的电气连接通路,有效减小杂散电容与耦合电感。
搜索关键词: 微机 系统 器件 集成电路 集成 方法 芯片
【主权项】:
1.一种微机电系统器件与集成电路的集成方法,其特征在于包括步骤:1)分别提供一具有微机电系统器件的第一芯片及一具有与所述微机电系统器件对应的集成电路的第二芯片,其中,所述第一芯片具有第一电气连接点,所述第二芯片上具有第二电气连接点,且当所述第一芯片覆盖于所述第二芯片上时所述第一电气连接点与所述第二电气连接点相互对应;2)在所述第一电气连接点上生成第一附加导电点,同时在所述第一芯片上环绕所述微机电系统器件生成一第一封装环;3)在所述第二电气连接点上生成第二附加导电点,同时在所述第二芯片上生成一第二封装环,且当所述第一芯片覆盖于所述第二芯片上时所述第二封装环与所述第一封装环相对应;4)将所述第一芯片与所述第二芯片对接,并使所述第一附加导电点与所述第二附加导电点融合对接以完成所述微机电系统器件与所述集成电路的电气连接,同时,使所述第一封装环和所述第二封装环融合对接以将所述微机电系统器件密封于环内。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于李刚,未经李刚许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710044324.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top