[发明专利]晶圆级封装结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 200710045057.3 申请日: 2007-08-20
公开(公告)号: CN101373749A 公开(公告)日: 2009-02-25
发明(设计)人: 赖金榜;马俊 申请(专利权)人: 宏茂微电子(上海)有限公司
主分类号: H01L23/485 分类号: H01L23/485;H01L21/60
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 左一平
地址: 200000上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种晶圆级封装结构,包括一芯片、多个第一球底金属层、多个聚合物凸块以及多个导电凸块。芯片具有多个焊垫以及一保护层,其中保护层具有多个第一开口以将焊垫暴露。第一球底金属层覆盖保护层所暴露出的焊垫。聚合物凸块配置于第一球底金属层上,各聚合物凸块包括一聚合物层以及一导电柱。聚合物层具有至少一贯孔,而导电柱配置于贯孔。导电凸块配置于聚合物凸块上,并分别通过导电柱与对应的焊垫电性连接。如此可缩小凸块间隙,进而将本发明的晶圆级封装结构应用于焊垫密度较高的芯片。
搜索关键词: 晶圆级 封装 结构 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种晶圆级封装结构,其特征在于包括:一芯片,具有多个焊垫以及一保护层,其中该保护层具有多个第一开口以将该些焊垫暴露;多个第一球底金属层,覆盖该保护层所暴露出的该些焊垫;多个聚合物凸块,配置于该些第一球底金属层上,各该些聚合物凸块包括:一聚合物层,具有至少一贯孔;至少一导电柱,配置于该贯孔;以及多个导电凸块,配置于该些聚合物凸块上,并分别通过该些导电柱与对应的该些焊垫电性连接。
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