[发明专利]集成电路芯片接口模块的回环测试结构有效
| 申请号： | 200710045089.3 | 申请日： | 2007-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN101373205A | 公开（公告）日： | 2009-02-25 |
| 发明（设计）人： | 李源 | 申请（专利权）人： | 上海摩波彼克半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/303 | 分类号： | G01R31/303;G01R31/317 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 王洁 |
| 地址： | 201203上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种集成电路芯片接口模块的回环测试结构，连接于芯片接口模块上的第一发送信号线通过一发送信号选择开关与第二发送信号线连接，第一接收信号线通过一接收信号选择开关与第二接收信号线连接，发送信号选择开关与接收信号选择开关之间跨接一串联有时序延时模块的回环测试线，发送信号选择开关将第一发送信号线选择性地与第二发送信号线或者回环测试线连通，接收信号选择开关将第一接收信号线选择性地与第二接收信号线或者回环测试线连通。采用该种结构的集成电路芯片接口模块的回环测试结构，能够测试出芯片在时序方面的稳定特性，不会干扰与其它接口设备的连接，控制过程方便快捷，电路结构简单灵活，工作性能稳定可靠，适用范围较广。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 芯片 接口 模块 回环 测试 结构 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路芯片接口模块的回环测试结构，包括连接于芯片接口模块上的第一发送信号线和第一接收信号线、连接于芯片测试平台板上的第二发送信号线和第二接收信号线，其特征在于，所述的第一发送信号线通过一发送信号选择开关与所述的第二发送信号线相连接，所述的第一接收信号线通过一接收信号选择开关与所述的第二接收信号线相连接，所述的发送信号选择开关与接收信号选择开关之间跨接一串联有时序延时模块的回环测试线，所述的发送信号选择开关将第一发送信号线选择性地与第二发送信号线或者回环测试线相连通，所述的接收信号选择开关将第一接收信号线选择性地与第二接收信号线或者回环测试线相连通。
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