[发明专利]用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法无效
| 申请号： | 200710048701.2 | 申请日： | 2007-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN101196461A | 公开（公告）日： | 2008-06-11 |
| 发明（设计）人： | 张声森;王素梅;蒋治良 | 申请（专利权）人： | 广西师范大学 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N21/47 |
| 代理公司： | 桂林市华杰专利事务所有限责任公司 | 代理人： | 孙伊滨 |
| 地址： | 541004广西壮族自*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法，它是在常温下将CdTe溶液于带刻度的容器中，用亚沸高纯度水定容；将定容后的溶液放入石英池中，置于荧光分光光度计上，用Volt＝500v，Ex.mono.Slit＝Em.mono.Slit＝5.0nm，同步扫描激发波长λex和发射波长λem(λex＝λem)，即得到CdTe量子点的共振散射光谱，利用共振散射波长和CdTe量子点粒径的线性关系，求得CdTe量子点粒径。这种用共振散射光谱测定CdTe量子粒径的方法优点在于：(1)操作简便、快速，只要测得CdTe量子点的共振散射峰波长λ，据λ＝148.37ln(d)+418.08，可求得其粒径(d)；(2)具有较好的应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 共振 散射 光谱 测定 cdte 量子 粒径 方法 | ||
【主权项】：
1.用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法，其特征是：包括如下步骤：(1)在常温下将CdTe溶液于带刻度的容器中，用亚沸高纯度水定容；(2)移取溶液放入石英池中，置于荧光分光光度计上，用Volt＝500v，Ex.mono.Slit＝Em.mono.Slit＝5.0nm，同步扫描激发波长λex和发射波长λem，得到CdTe量子点的共振散射光谱。(3)利用共振散射波长和CdTe量子点粒径的线性关系，求得CdTe量子点粒径即可。
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