[发明专利]数显测量装置有效
| 申请号： | 200710049810.6 | 申请日： | 2007-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN101122455A | 公开（公告）日： | 2008-02-13 |
| 发明（设计）人： | 赵志强 | 申请（专利权）人： | 赵志强 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02;G01B3/20;G01D5/12 |
| 代理公司： | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 马兰 |
| 地址： | 541004广西壮族自治区桂林市*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量用的数显测量装置，包括一副大数测量量装置，其测量范围为整个数显测量装置的测量范围，它将整个数显测量装置的测量范围粗分为若干测量小段，并能将各测量小段的位置一一对应地标定于其上；另一副为小数测量量装置，其测量范围大于最大的一个测量小段；还包括一个通过大数测量量装置的测量量和小数测量量装置的测量量计算得出总测量结果的计算装置。本发明最适合在数显卡尺上运用，数显卡尺的大数测量量装置为固化于尺身上等距间隔的不等深凹槽和感知凹槽深度的电容传感器；数显卡尺的小数测量量装置为感知尺框卡爪在凹槽间距内移动距离的百分表。本发明将测量量分解成大、小数，进行累加计数，实现了绝对测量。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.数显测量装置，包括用于测量空间位移量的测量装置，其特征在于所述用于测量空间位移量的测量装置为两付：①、一付为大数测量量装置，其测量范围为整个数显测量装置的测量范围，它将整个数显测量装置的测量范围粗分为若干测量小段，测量时大数测量量装置标定出待测点对应的测量小段；②、另一付为小数测量量装置，其测量范围大于最大的一个测量小段，测量时小数测量量装置测量出待测点相对于被标定的测量小段的位置；③、还包括一个通过大数测量量装置的测量量和小数测量量装置的测量量计算得出总测量结果的计算装置。
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