[发明专利]HAuCl4分光光度法检测痕量金纳米粒子无效

专利信息
申请号: 200710049972.X 申请日: 2007-09-04
公开(公告)号: CN101201318A 公开(公告)日: 2008-06-18
发明(设计)人: 蒋治良;张声森 申请(专利权)人: 广西师范大学
主分类号: G01N21/33 分类号: G01N21/33
代理公司: 桂林市华杰专利事务所有限责任公司 代理人: 罗玉荣
地址: 541004广西壮*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明公开了HAuCl4分光光度法检测痕量金纳米粒子的方法,它是在柠檬酸钠-盐酸缓冲溶液中,加入一定量的金纳米粒子,氯金酸溶液和NH2OH·HCl,水浴反应一定时间,取适量于石英比色池中,置于双光束紫外可见分光光度计上,测出296nm处的吸光度,根据工作曲线,求得纳米金的浓度。本方法的优点:(1)设备简单,仅需紫外可见分光光度计,操作简便快速、灵敏度高,检测限低,达到0.25nmol/L;(2)试剂易得,成本低廉,此法为定量分析痕量纳米金微粒提供了一个有价值的方法,该法与免疫反应结合,用于纳米免疫分析将有广泛的应用价值,将有较好的应用价值。
搜索关键词: haucl sub 分光光度法 检测 痕量 纳米 粒子
【主权项】:
1.HAuCl4分光光度法检测痕量金纳米粒子的方法,其特征是:检测方法包括步骤如下:①在柠檬酸钠-盐酸缓冲溶液中,加入金纳米粒子、HAuCl4和NH2OH·HCl于刻度试管,然后定容;②将试管置于温水浴中反应;③上述反应完成后,取适量所得溶液于石英池中,置于双光束紫外可见分光光度计上,测出296nm处的吸光度,绘制标准工作曲线,根据工作曲线,可求得纳米金的浓度。
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