[发明专利]一种在密封品检漏中绘制压差与泄漏量关系曲线的方法

摘要

一种在密封品检漏中绘制压差与泄漏量关系曲线的方法，使用容积校正器在密封品检漏装置上进行，其特征在于实施步骤如下：在放置被测件的密封容器上接入容积校正器；根据所需检测范围设置检测点，用容积校正器调整不同的容积变化量ΔV，通过差压式密封品检漏装置测出对应不同ΔV下压差ΔP_R的具体数值，分别完成压差ΔP_R与泄漏量关系曲线图中的小漏率检测曲线和大漏率检测曲线的绘制。本发明的优点是：1.原理科学、不需要复杂计算；2.操作简单实用、易于实施；3.利用所绘曲线进行检测，准确率较高。

主权项

1.一种在密封品检漏中绘制压差与泄漏量关系曲线的方法，使用容积校正器在密封品检漏装置上进行，其特征在于实施步骤如下：1)在差压式密封品检漏装置中，在放置被测件的密封容器上接入容积校正器，将两个已知不漏的被测件分别放入被测件密封容器和基准件密封容器内；2)在差压式密封品检漏装置中，对被测件密封容器和基准件密封容器进行充压或抽真空，并达到规定的测试压力；3)按照被测件的允许漏率和测试压力，计算出容积校正器的容积变化量△V，并用容积校正器调整相应容积变化量为△V，记录此时该检漏装置差压传感器产生的压差△PR；4)将差压式密封品检漏装置放气，还原容积校正器到初始位置；5)操作差压式密封品检漏装置进行小漏率检测：根据所需检测范围由小到大设置至少5个检测点，重复2)～4)操作，用容积校正器调整不同的容积变化量△V，通过差压式密封品检漏装置测出对应不同△V下压差△PR的具体数值，完成压差△PR与泄漏量关系曲线图中的小漏率检测曲线的绘制；6)操作差压式密封品检漏装置进行大漏率检测：根据所需检测范围由小到大设置至少5个检测点，重复2)～4)操作，用容积校正器调整不同的容积变化量△V，通过差压式密封品检漏装置测出不同△V下压差△PR的具体数值，完成压差△PR与泄漏量关系曲线图中的大漏率检测曲线的绘制。