[发明专利]带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜有效
申请号: | 200710065294.6 | 申请日: | 2007-04-10 |
公开(公告)号: | CN101286005A | 公开(公告)日: | 2008-10-15 |
发明(设计)人: | 刘前;曹四海;郭传飞;李晓军 | 申请(专利权)人: | 国家纳米科学中心 |
主分类号: | G03F7/004 | 分类号: | G03F7/004 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 高存秀 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜,包括基底,和依次沉积在基底上的第一保护层、氧化物掩模层、第二保护层、第一金属薄膜和第二金属薄膜;所述的第一金属薄膜和第二金属薄膜,是两种金属在相对较低温度≤500℃下,能形成二元合金的材料的组合;所述的第一保护层厚度为100nm-200nm,所述的掩模层厚度为2nm-30nm,所述的第二保护层厚度为10nm-50nm。本发明的带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜,采用超分辨近场结构和无机热阻膜结合的多层膜结构。在微纳米加工过程中,采用此多层膜结构制作光刻原片,利用普通曝光系统或直写式曝光系统实现曝光,能够简单获得高分辨率的曝光图形。能够在简单地获得高分辨率曝光图形的同时,有效增加纳米构造的高度。 | ||
搜索关键词: | 带有 氧化物 局域 微缩 光刻 | ||
【主权项】:
1. 一种带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜,包括基底(1),和依次溅射沉积在基底(1)上的第一保护层(9)、氧化物掩模层(8)和第二保护层(7);其特征在于:还包括第一金属薄膜(A)和第二金属薄膜(B);该第一金属薄膜(A)和第二金属薄膜(B)顺序生长在第二保护层(7)上,所述的第一金属薄膜(A)和第二金属薄膜(B)是能在温度≤500℃下,一起形成二元合金的金属材料;所述的第一金属薄膜(A)和第二金属薄膜(B)的厚度分别为5nm-100nm。
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