[发明专利]一种半导体激光透过率分析系统有效
| 申请号： | 200710070484.7 | 申请日： | 2007-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN101105450A | 公开（公告）日： | 2008-01-16 |
| 发明（设计）人： | 熊志才;顾海涛;王健 | 申请（专利权）人： | 聚光科技（杭州）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/39 | 分类号： | G01N21/39;G01N21/59 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310052浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体激光透过率分析系统，包括光发射单元、光接收单元和信号分析单元，所述光发射单元和光接收单元安装在被测介质的一侧或两侧；所述光发射单元包括半导体激光器、第一会聚透镜；所述第一会聚透镜相对半导体激光器的一端为斜面；所述半导体激光器与所述第一会聚透镜之间激光束主光线光程小于或等于7mm；所述第一会聚透镜的中间部分的A－A截面为任意几何形状，所述截面的最小覆盖圆的直径大于或等于25mm；所述半导体激光器发出的光通过所述第一会聚透镜后进入被测介质。本发明还公开了另外一种半导体激光透过率分析系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 激光 透过 分析 系统 | ||
【主权项】：
1.一种半导体激光透过率分析系统，包括光发射单元、光接收单元和信号分析单元，所述光发射单元和光接收单元安装在被测介质的一侧或两侧；所述光发射单元包括半导体激光器、第一会聚透镜；其特征在于：所述第一会聚透镜相对半导体激光器的一端为斜面；所述半导体激光器与所述第一会聚透镜之间激光束主光线光程小于或等于7mm；所述第一会聚透镜的中间部分的A-A截面为任意几何形状，所述截面的最小覆盖圆的直径大于或等于25mm；所述半导体激光器发出的光通过所述第一会聚透镜后进入被测介质。
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