[发明专利]一种光学头中光学系统的优化方法无效
申请号: | 200710075381.X | 申请日: | 2007-08-01 |
公开(公告)号: | CN101105951A | 公开(公告)日: | 2008-01-16 |
发明(设计)人: | 程雪岷;马建设;闫霜;毛乐山;孙满龙;杨明生;潘龙法;张布卿;王烁石 | 申请(专利权)人: | 清华大学深圳研究生院;东莞宏威数码机械有限公司 |
主分类号: | G11B7/08 | 分类号: | G11B7/08 |
代理公司: | 深圳创友专利商标代理有限公司 | 代理人: | 邢涛 |
地址: | 518055广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种光学头中光学系统的优化方法,属于光存储技术领域。本发明包括以下步骤:A.根据光学系统的初步设计结果模拟光路,基于传统像差理论,采用第一像质评价函数,对光学系统进行优化,达到衍射极限;B.在满足基于像差理论的优化极限下,以光学系统中光路元件状态检测的灵敏度为优化的目标二次优化光学系统。本发明由于在采用第一像质评价函数,对光学系统进行优化,达到衍射极限后;再以光学系统中光路元件状态检测的灵敏度为优化的目标二次优化光学系统。所以可以使光学头检测灵敏度满足控制系统要求,提高不同光学头中光学系统的设计与优化效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学 光学系统 优化 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光学头中光学系统的优化方法,包括以下步骤:A、根据光学系统的初步设计结果模拟光路,基于传统像差理论,采用第一像质评价函数,对光学系统进行优化,达到衍射极限;B、在满足基于像差理论的优化极限下,以光学系统中光路元件状态检测的灵敏度为优化的目标二次优化光学系统。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学深圳研究生院;东莞宏威数码机械有限公司,未经清华大学深圳研究生院;东莞宏威数码机械有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710075381.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:磷酸三镓晶体的助熔剂生长法
- 下一篇:三元反应性共混制备可降解共聚酯的方法