[发明专利]可录式光盘刻录品质的动态检测方法无效

专利信息
申请号: 200710079234.X 申请日: 2007-02-13
公开(公告)号: CN101246700A 公开(公告)日: 2008-08-20
发明(设计)人: 范纲铭;翁势凯 申请(专利权)人: 建兴电子科技股份有限公司
主分类号: G11B7/0045 分类号: G11B7/0045;G11B7/007
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明一种可录式光盘刻录品质的动态检测方法,包括下列步骤:在一可录式光盘的一数据区中设定一检测位置;利用一最佳刻录功率在该数据区进行一数据刻录动作;当该可录式光盘该数据区上的一刻录位置大于或等于该检测位置时,暂停该数据刻录动作;读取先前记录在该可录式光盘轨道上的一刻录数据并进行一最佳化功率校正动作后更新该最佳刻录功率并计算出一抖动值;根据该抖动值更新该检测位置;以及,利用更新后的该最佳刻录功率再次在该数据区启动该数据刻录动作,直到该刻录位置大于或等于更新后的该检测位置。
搜索关键词: 可录式 光盘 刻录 品质 动态 检测 方法
【主权项】:
1. 一种可录式光盘刻录品质的动态检测方法,包括下列步骤:在一可录式光盘的一数据区中设定一检测位置;利用一最佳刻录功率在该数据区进行一数据刻录动作;当该可录式光盘该数据区上的一刻录位置大于或等于该检测位置时,暂停该数据刻录动作;读取先前记录在该可录式光盘轨道上的一刻录数据并进行一最佳化功率校正动作后更新该最佳刻录功率并计算出一抖动值;根据该抖动值更新该检测位置;以及利用更新后的该最佳刻录功率再次在该数据区启动该数据刻录动作,直到该刻录位置大于或等于更新后的该检测位置。
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