[发明专利]非晶硅金属诱导晶化方法有效
申请号: | 200710086301.0 | 申请日: | 2007-03-13 |
公开(公告)号: | CN101086962A | 公开(公告)日: | 2007-12-12 |
发明(设计)人: | 郭海成;王文;孟志国;赵淑云;吴春亚 | 申请(专利权)人: | 香港科技大学 |
主分类号: | H01L21/20 | 分类号: | H01L21/20;H01L21/336;H01L21/84;G02F1/1362 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张雪梅;梁永 |
地址: | 中国香港*** | 国省代码: | 中国香港;81 |
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摘要: | 本发明提供一种非晶硅金属诱导晶化方法。以非晶硅为初始材料,通过对非晶硅上LTO进行光刻制备出相应的图案。其中面积较大的被称作定位孔,面积较小的被称作镍源补充孔。然后沉积微量镍,诱导产生大晶粒的多晶硅。特别是,金属被引入非晶材料上的选定位置,其浓度略高于开始发生诱导晶化的最低浓度,在其他的位置引入金属,但其浓度小于发生诱导晶化的浓度,可为保证晶化速度和结晶质量提供诱导金属。如上设置的金属元素引入后,对非晶薄膜进行热退火。结果会形成大晶粒尺寸并按设计排列的多晶硅薄膜。用该方法可以制备出高均匀性,高质量的多晶硅薄膜,且工艺重复性好。 | ||
搜索关键词: | 非晶硅 金属 诱导 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制备多晶硅薄膜的方法,至少包括步骤:·在衬底上沉积第一层非晶硅薄膜,·在第一层非晶硅薄膜上形成第二层薄膜,·在所述第二层薄膜上形成图案,所形成的图案是由非晶硅暴露区和非暴露区组成的,·在所述第二层薄膜和非晶硅暴露区上沉积含金属镍的薄膜,·去掉所述第二层薄膜,·进行热退火,在退火过程中,非晶硅薄膜形成多晶硅薄膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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