[发明专利]非晶硅金属诱导晶化方法有效

专利信息
申请号: 200710086301.0 申请日: 2007-03-13
公开(公告)号: CN101086962A 公开(公告)日: 2007-12-12
发明(设计)人: 郭海成;王文;孟志国;赵淑云;吴春亚 申请(专利权)人: 香港科技大学
主分类号: H01L21/20 分类号: H01L21/20;H01L21/336;H01L21/84;G02F1/1362
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张雪梅;梁永
地址: 中国香港*** 国省代码: 中国香港;81
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摘要: 发明提供一种非晶硅金属诱导晶化方法。以非晶硅为初始材料,通过对非晶硅上LTO进行光刻制备出相应的图案。其中面积较大的被称作定位孔,面积较小的被称作镍源补充孔。然后沉积微量镍,诱导产生大晶粒的多晶硅。特别是,金属被引入非晶材料上的选定位置,其浓度略高于开始发生诱导晶化的最低浓度,在其他的位置引入金属,但其浓度小于发生诱导晶化的浓度,可为保证晶化速度和结晶质量提供诱导金属。如上设置的金属元素引入后,对非晶薄膜进行热退火。结果会形成大晶粒尺寸并按设计排列的多晶硅薄膜。用该方法可以制备出高均匀性,高质量的多晶硅薄膜,且工艺重复性好。
搜索关键词: 非晶硅 金属 诱导 方法
【主权项】:
1.一种制备多晶硅薄膜的方法,至少包括步骤:·在衬底上沉积第一层非晶硅薄膜,·在第一层非晶硅薄膜上形成第二层薄膜,·在所述第二层薄膜上形成图案,所形成的图案是由非晶硅暴露区和非暴露区组成的,·在所述第二层薄膜和非晶硅暴露区上沉积含金属镍的薄膜,·去掉所述第二层薄膜,·进行热退火,在退火过程中,非晶硅薄膜形成多晶硅薄膜。
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