[发明专利]具有SONOS结构的非易失性存储器及其制造方法无效
申请号: | 200710086975.0 | 申请日: | 2007-03-27 |
公开(公告)号: | CN101101925A | 公开(公告)日: | 2008-01-09 |
发明(设计)人: | 严在哲 | 申请(专利权)人: | 海力士半导体有限公司 |
主分类号: | H01L29/792 | 分类号: | H01L29/792;H01L29/423 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 顾晋伟;刘继富 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 一种具有SONOS结构的非易失性存储器及其制备方法,其中在SONOS结构的电荷捕获层与阻挡绝缘层之间形成导电层。因此,当对栅极施加电压时,导电层发生电压分配。因而,可以通过控制阻挡绝缘层的有效氧化物厚度(EOT)以及控制电荷捕获层和隧道绝缘层的EOT从而对阻挡绝缘层、电荷捕获层和隧道绝缘层施加所需的电压。因此,可以改善单元的擦除速度。 | ||
搜索关键词: | 具有 sonos 结构 非易失性存储器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种非易失性存储器,包含:在半导体衬底上形成的隧道绝缘层;在隧道绝缘层上形成的电荷捕获层;在电荷捕获层上形成的阻挡栅;在阻挡栅上形成的阻挡绝缘层;和在阻挡绝缘层上形成的栅电极。
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